阐述　　如果一个新产品在电磁干扰（EMI）实相容测试或者标准相容测试中告终，展开故障诊断和改良是当务之急。而近场分析仪因应频谱分析仪查询干扰源，并检验改良效果是最少见易行的方法。

▲图一安捷伦X系列信号分析仪和N9311X-100近场分析仪　　将近场测试综述　　在认证机构中，用于经过各类校准的天线展开电磁辐射泄漏测试，都是展开的远场测量。标准的远场电磁辐射外泄测试，可以精确定量的告诉他我们被测件否合乎适当的EMI标准。但是远场测试无法告诉他工程师，相当严重的电磁辐射问题究竟是来自于壳体的缝隙，还是来自相连的电缆，或USB，LAN之类的通信接口。在这种情况下，我们可以通过将近场测试的方法来定位电磁辐射的确实来源。

　　近场EMI测量的问题在于用于将近场分析仪的测量结果和用于天线展开远场测量的结果无法必要展开数学切换。但是不存在一个基本原理：近场的电磁辐射越大，远场的电磁辐射也必定越大。

所以用于将近场分析仪测量，实质上是一个比较量的测量，而不是准确的绝对量测量。用于将近场分析仪展开EMI实相容测试时，我们经常把新的被测件测试结果和一个未知合格被测件的近场分析仪测试（将近场测试）结果展开较为，来预测EMI电磁辐射外泄测试（远场测试）的结果，而不是必要和合乎EMI相容标准的容许线展开较为。

同时，测试的意味著数值意义也并不大，因为这个测试结果和诸多变量，还包括分析仪的方位方向、被测件的形状等不会密切相关。　　将近场分析仪的种类及主要特点　　电磁场是由电场和磁场包含。在近场，电场和磁场联合不存在，其强度不包含相同关系。

以电场居多还是磁场居多，主要是由升空源的类型要求的。简而言之，在低电压，较低电流的区域，电场小于磁场。

低电流，低电压的区域，磁场小于电场。同时在主要的EMI测试频段，磁场随着距离的变化要快得多电场。

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